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Zhu, Liling

chinese academy of sciences

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收录论文 2
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Wafer Defect Classification Method Based on Improved EfficientNet Model基于改进EfficientNet模型的晶圆缺陷分类方法
errApplied Sciences-Basel
IF2.5
err2026-05-11
err0
PREAI
errZhu, Liling; Wu, Zhipeng
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Prediction Method of Wafer Height Process Dependency Error Based on Deep Transfer Learning基于深度迁移学习的晶圆高度过程依赖性误差预测方法
errActa Optica Sinica
IF1.6
err2026-02-01
err1
PREAI
errWu, Zhipeng; Qi, Yuejing; Wang, Dan; Xu, Tianwei; Zhou, Xin; Zhu, Liling
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研究方向

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合作学者
合作期刊
Z
Z W Wu
H 指数: 1 · 论文数: 53
X
Xu, TianWei
H 指数: 0 · 论文数: 3
Z
Zhou, Xin
H 指数: 0 · 论文数: 202
王
王丹 (Wang, Dan)
H 指数: 0 · 论文数: 202
W
Wu, Zhipeng
H 指数: 0 · 论文数: 10
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