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O
Olga Y. Savchuk
state university of new york (suny) system
3
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17
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71
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2
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IF
被引数
Nonparametric estimation of SiC film residual stress from the wafer surface profile
MEASUREMENT
IF
5.6
2021-06-01
6
PRE
AI
Savchuk, Olga; Volinsky, Alex A.
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Indirect Cross-Validation for Density Estimation
JOURNAL OF THE AMERICAN STATISTICAL ASSOCIATION
IF
3
2012-01-01
39
OA
AI
Savchuk, Olga Y.; Hart, Jeffrey D.; Sheather, Simon J.
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研究方向
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合作学者
合作期刊
A
Alex A. Volinsky
H 指数: 61 · 论文数: 566
S
Simon J. Sheather
H 指数: 41 · 论文数: 149
J
Jeffrey D. Hart
H 指数: 32 · 论文数: 129
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