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收藏Investigating the Failure Mechanism of p-GaN Gate HEMTs under High Power Stress with a Transparent ITO Gate用透明ITO栅研究高功率应力下p-gan栅hemt的失效机理
Han, Zhanfei; Li, Xiangdong; Wang, Hongyue; Yuan, Jiahui; Wang, Junbo; Wang, Meng; Yang, Weitao; You, Shuzhen; Chang, Jingjing; Zhang, Jincheng; Hao, Yue
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