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Hemin Rahimi

department of electronics and communication engineering

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Effective fault detection in M3D ICs: a cluster-based BIST for enhanced inter-layer via fault coverageM3D ICs中的有效故障检测：一种基于聚类的增强层间通孔故障覆盖的BIST
errFrontiers of Information Technology & Electronic Engineering
IF2.9
err2025-11-17
err0
PREAI
errHadi Jahanirad; Ahmad Menbari; Hemin Rahimi; Daniel Ziener
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研究方向

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合作学者
合作期刊
D
Daniel Ziener
H 指数: 19 · 论文数: 61
H
Hadi Jahanirad
H 指数: 9 · 论文数: 44
A
Ahmad Menbari
H 指数: 3 · 论文数: 9
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