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科言猫学术研究的AI总结
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Yoshikazu Nagamura

tokyo metropolitan university

4H指数
22论文数
55被引数
收录论文 1
发表时间
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Self-Training-Based Wafer Map Defect Pattern Labeling for Classification Accuracy Improvement基于自训练的晶圆地图缺陷模式标注以提高分类精度
errInternational Journal of Reliability Quality and Safety Engineering
IF0.9
err2026-02-01
err0
PREAI
errKurokawa, Masaru; Nagamura, Yoshikazu; Arai, Masayuki; Fukumoto, Satoshi
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研究方向

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合作学者
合作期刊
M
Masayuki Arai
H 指数: 16 · 论文数: 581
S
Satoshi Fukumoto
H 指数: 11 · 论文数: 118
M
Masaru Kurokawa
H 指数: 0 · 论文数: 2
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