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Ming Hu
Heilongjiang University
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A Test Response Compression Method for Monolithic 3-D ICs Based on 3-D Haar Wavelet Transforms
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT
IF
5.9
2021-01-01
1
PRE
AI
Hu, Jing; Lin, Yuheng; Hu, Ming; Wang, Hongjian
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A Test Response Compression Method for Monolithic 3-D ICs Based on 3-D Haar Wavelet Transforms (vol 70, 3506412, 2021)
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT
IF
5.9
2021-01-01
1
OA
AI
Hu, Jing; Lin, Yuheng; Hu, Ming; Wang, Hongjian
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研究方向
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合作学者
合作期刊
J
Jing Hu
H 指数: 6 · 论文数: 48
H
Hongjian Wang
H 指数: 3 · 论文数: 9
Y
Yuheng Lin
H 指数: 2 · 论文数: 7
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