Hurrell, James W.; Holland, M. M.; Gent, P. R.; Ghan, S.; Kay, Jennifer E.; Kushner, P. J.; Lamarque, J. -F.; Large, W. G.; Lawrence, D.; Lindsay, K.; Lipscomb, W. H.; Long, M. C.; Mahowald, N.; Marsh, D. R.; Neale, R. B.; Rasch, P.; Vavrus, S.; Vertenstein, M.; Bader, D.; Collins, W. D.; Hack, J. J.; Kiehl, J.; Marshall, S.
Hannay, Cecile; Williamson, David L.; Hack, James J.; Kiehl, Jeffrey T.; Olson, Jerry G.; Klein, Stephen A.; Bretherton, Christopher S.; Koehler, Martin
Collins, William D.; Bitz, Cecilia M.; Blackmon, Maurice L.; Bonan, Gordon B.; Bretherton, Christopher S.; Carton, James A.; Chang, Ping; Doney, Scott C.; Hack, James J.; Henderson, Thomas B.; Kiehl, Jeffrey T.; Large, William G.; McKenna, Daniel S.; Santer, Benjamin D.; Smith, Richard D.
Collins, William D.; Rasch, Philip J.; Boville, Byron A.; Hack, James J.; McCaa, James R.; Williamson, David L.; Briegleb, Bruce P.; Bitz, Cecilia M.; Lin, Shian-Jiann; Zhang, Minghua
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