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收藏Formation and Evolution Mechanism of Dislocation Piles Induced by Triangle Defects in Thick 4H-SiC Epilayers
Huang, Xiyao; Xu, Mingsheng; Hou, Xinyue; Yang, Shan; Chen, Yifei; Guo, Yapeng; Sun, Li; Li, Shuqiang; Guo, Ling; Han, Jisheng; Xu, Xiangang
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