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收藏Quantitative comparison between two phase contrast techniques:: diffraction enhanced imaging and phase propagation imaging (vol 50, pg 709, 2005)
Pagot, E; Fiedler, S; Cloetens, P; Bravin, A; Coan, P; Fezzaa, K; Baruchel, J; Härtwig, J; vonSmitten, K; Leidenius, M; Karjalainen-Lindsberg, ML; Keyriläinen, J
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收藏Pressure-induced defect structure changes in thin AlGaAs layers
Bak-Misiuk, J; Shalimov, A; Paszkowicz, W; Misiuk, A; Härtwig, J; Adamczewska, J; Trela, J; Domagala, JZ; Dobosz, D; Zytkiewicz, ZR
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收藏Influence of high pressure and temperature on defect structure of silicon crystals implanted with N or Si ions
Bak-Misuk, J; Misiuk, A; Paszkowicz, W; Shalimov, A; Härtwig, J; Bryja, L; Domagala, JZ; Trela, J; Wierzchowski, W; Wieteska, K; Ratajczak, J; Graeff, W
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