未登录
分享
收藏Total-Ionizing-Dose Effects and Low-Frequency Noise in 90 nm, 3.3 V Input/Output CMOS Devices总离子剂量效应及低频噪声在90纳米、3.3伏输入/输出CMOS器件中的表现
Neuendank, J.; Kirby, T.; Barnaby, H. J.; Fleetwood, D. M.; Bonaldo, S.; Loveless, T. D.; Westfall, S.; Muscat, P.; Nour, M.; Chambers, M.
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏