未登录
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏200 and 300 MeV/nucleon nuclear reactions responsible for single-event effects in microelectronics
Jaderstrom, H.; Murin, Yu.; Babain, Yu.; Chubarov, M.; Pljuschev, V.; Zubkov, M.; Nomokonov, P.; Olsson, N.; Blomgren, J.; Tippawan, U.; Westerberg, L.; Golubev, P.; Jakobsson, B.; Geren, L.; Tegner, P. -E.; Zartova, I.; Budzanowski, A.; Czech, B.; Skwirczynska, I.; Kondratiev, V.; Tang, H. H. K.; Aichelin, J.; Watanabe, Y.; Gudima, K. K.
分享
收藏