E.L. Mayer; F.-C. Bidard; Y.H. Park; W. Janni; C. Ma; M. Cristofanilli; H. Iwata; G. Bianchini; K. Kalinsky; S. Chia; A. Brufsky; P.A. Fasching; Z. Nowecki; S.-C. Chen; J. Pascual; L. Moreau; M. Ruiz-Borrego; A. Shai; N. Karadurmus; J.H. Sohn; Y. Zhu; I. Leddin; M.S. Miralles; C.H. Bartlett; N. Turner
M.P. Goetz; M. Toi; J. Huober; J. Sohn; O. Trédan; I.H. Park; M. Campone; S.-C. Chen; L.M. Manso; S. Paluch-Shimon; O.C. Freedman; J. O’Shaughnessy; X. Pivot; S.M. Tolaney; S.A. Hurvitz; A. Llombart-Cussac; V. André; A. Saha; G. van Hal; A. Shahir; H. Iwata; S.R.D. Johnston
Goetz, M. P.; Toi, M.; Huober, J.; Sohn, J.; Tredan, O.; Park, I. H.; Campone, M.; Chen, S. -C.; Manso, L. M.; Paluch-Shimon, S.; Freedman, O. C.; O'Shaughnessy, J.; Pivot, X.; Tolaney, S. M.; Hurvitz, S. A.; Llombart-Cussac, A.; Andre, V.; Saha, A.; van Hal, G.; Shahir, A.; Iwata, H.; Johnston, S. R. D.