F. Mancarella

consiglio nazionale delle ricerche (cnr)

H指数:16

被引数:1,096

个人简介

暂无内容

教育背景

暂无内容

工作经历

暂无内容

荣誉奖项

暂无内容

Breaking the thermoelectric trade-off in PEDOT:PSS by crystallization under a strongly confined environment

通过强受限环境下的结晶打破PEDOT:PSS的热电权衡

Journal of Materials Chemistry A

IF9.5

2026-01-010

Enhancing zT in Organic Thermoelectric Materials through Nanoscale Local Control Crystallization

ACS NANO

IF16

2024-11-160

PRE

Optimization of the first CUPID detector module

EUROPEAN PHYSICAL JOURNAL C

IF4.8

2022-09-1214

Alfonso, K.; Armatol, A.; Augier, C.; Avignone, F. T., III; Azzolini, O.; Balata, M.; Barabash, A. S.; Bari, G.; Barresi, A.; Baudin, D.; Bellini, F.; Benato, G.; Beretta, M.; Bettelli, M.; Biassoni, M.; Billard, J.; Boldrini, V; Branca, A.; Brofferio, C.; Bucci, C.; Camilleri, J.; Campani, A.; Capelli, C.; Capelli, S.; Cappelli, L.; Cardani, L.; Carniti, P.; Casali, N.; Celi, E.; Chang, C.; Chiesa, D.; Clemenza, M.; Colantoni, I; Copello, S.; Craft, E.; Cremonesi, O.; Creswick, R. J.; Cruciani, A.; D'Addabbo, A.; D'Imperio, G.; Dabagov, S.; Dafinei, I; Danevich, F. A.; De Jesus, M.; de Marcillac, P.; Dell'Oro, S.; Di Domizio, S.; Di Lorenzo, S.; Dixon, T.; Dompe, V; Drobizhev, A.; Dumoulin, L.; Fantini, G.; Faverzani, M.; Ferri, E.; Ferri, F.; Ferroni, F.; Figueroa-Feliciano, E.; Foggetta, L.; Formaggio, J.; Franceschi, A.; Fu, C.; Fu, S.; Fujikawa, B. K.; Gallas, A.; Gascon, J.; Ghislandi, S.; Giachero, A.; Gianvecchio, A.; Gironi, L.; Giuliani, A.; Gorla, P.; Gotti, C.; Grant, C.; Gras, P.; Guillaumon, P., V; Gutierrez, T. D.; Han, K.; Hansen, E., V; Heeger, K. M.; Helis, D. L.; Huang, H. Z.; Imbert, L.; Johnston, J.; Juillard, A.; Karapetrov, G.; Keppel, G.; Khalife, H.; Kobychev, V. V.; Kolomensky, Yu G.; Konovalov, S., I; Kowalski, R.; Langford, T.; Lefevre, M.; Liu, R.; Liu, Y.; Loaiza, P.; Ma, L.; Madhukuttan, M.; Mancarella, F.; Marini, L.; Marnieros, S.; Martinez, M.; Maruyama, R. H.; Mas, Ph; Mauri, B.; Mayer, D.; Mazzitelli, G.; Mei, Y.; Milana, S.; Morganti, S.; Napolitano, T.; Nastasi, M.; Nikkel, J.; Nisi, S.; Nones, C.; Norman, E. B.; Novosad, V; Nutini, I; O'Donnell, T.; Olivieri, E.; Olmi, M.; Ouellet, J. L.; Pagan, S.; Pagliarone, C.; Pagnanini, L.; Pattavina, L.; Pavan, M.; Peng, H.; Pessina, G.; Pettinacci, V; Pira, C.; Pirro, S.; Poda, D., V; Polischuk, O. G.; Ponce, I; Pozzi, S.; Previtali, E.; Puiu, A.; Quitadamo, S.; Ressa, A.; Rizzoli, R.; Rosenfeld, C.; Rosier, P.; Scarpaci, J.; Schmidt, B.; Sharma, V; Shlegel, V. N.; Singh, V; Sisti, M.; Slocum, P.; Speller, D.; Surukuchi, P. T.; Taffarello, L.; Tomei, C.; Torres, J. A.; Tretyak, V., I; Tsymbaliuk, A.; Velazquez, M.; Vetter, K. J.; Wagaarachchi, S. L.; Wang, G.; Wang, L.; Wang, R.; Welliver, B.; Wilson, J.; Wilson, K.; Winslow, L. A.; Xue, M.; Yan, L.; Yang, J.; Yefremenko, V; Umatov, V., I; Zarytskyy, M. M.; Zhang, J.; Zolotarova, A.; Zucchelli, S.

Growth of thick [111]-oriented 3C-SiC films on T-shaped Si micropillars

MATERIALS & DESIGN

IF7.9

2021-10-0110

OAAI

Novel technique for the study of pileup events in cryogenic bolometers

PHYSICAL REVIEW C

IF3.4

2021-07-0220

OAAI

Armatol, A.; Armengaud, E.; Armstrong, W.; Augier, C.; Avignone, F. T., III; Azzolini, O.; Barabash, A.; Bari, G.; Barresi, A.; Baudin, D.; Bellini, F.; Benato, G.; Beretta, M.; Berge, L.; Biassoni, M.; Billard, J.; Boldrini, V; Branca, A.; Brofferio, C.; Bucci, C.; Camilleri, J.; Capelli, S.; Cappelli, L.; Cardani, L.; Carniti, P.; Casali, N.; Cazes, A.; Celi, E.; Chang, C.; Chapellier, M.; Charrier, A.; Chiesa, D.; Clemenza, M.; Colantoni, I; Collamati, F.; Copello, S.; Cremonesi, O.; Creswick, R. J.; Cruciani, A.; D'Addabbo, A.; D'Imperio, G.; Dafinei, I; Danevich, F. A.; de Combarieu, M.; De Jesus, M.; de Marcillac, P.; Dell'Oro, S.; Di Domizio, S.; Dompe, V; Drobizhev, A.; Dumoulin, L.; Fantini, G.; Faverzani, M.; Ferri, E.; Ferri, F.; Ferroni, F.; Figueroa-Feliciano, E.; Formaggio, J.; Franceschi, A.; Fu, C.; Fu, S.; Fujikawa, B. K.; Gascon, J.; Giachero, A.; Gironi, L.; Giuliani, A.; Gorla, P.; Gotti, C.; Gras, P.; Gros, M.; Gutierrez, T. D.; Han, K.; Hansen, E., V; Heeger, K. M.; Helis, D. L.; Huang, H. Z.; Huang, R. G.; Imbert, L.; Johnston, J.; Juillard, A.; Karapetrov, G.; Keppel, G.; Khalife, H.; Kobychev, V. V.; Kolomensky, Yu G.; Konovalov, S.; Liu, Y.; Loaiza, P.; Ma, L.; Madhukuttan, M.; Mancarella, F.; Mariam, R.; Marini, L.; Marnieros, S.; Martinez, M.; Maruyama, R. H.; Mauri, B.; Mayer, D.; Mei, Y.; Milana, S.; Misiak, D.; Napolitano, T.; Nastasi, M.; Navick, X. F.; Nikkel, J.; Nipoti, R.; Nisi, S.; Nones, C.; Norman, E. B.; Novosad, V; Nutini, I; O'Donnell, T.; Olivieri, E.; Oriol, C.; Ouellet, J. L.; Pagan, S.; Pagliarone, C.; Pagnanini, L.; Pari, P.; Pattavina, L.; Paul, B.; Pavan, M.; Peng, H.; Pessina, G.; Pettinacci, V; Pira, C.; Pirro, S.; Poda, D., V; Polakovic, T.; Polischuk, O. G.; Pozzi, S.; Previtali, E.; Puiu, A.; Ressa, A.; Rizzoli, R.; Rosenfeld, C.; Rusconi, C.; Sanglard, V; Scarpaci, J.; Schmidt, B.; Sharma, V; Shlegel, V; Singh, V; Sisti, M.; Speller, D.; Surukuchi, P. T.; Taffarello, L.; Tellier, O.; Tomei, C.; Tretyak, V., I; Tsymbaliuk, A.; Velazquez, M.; Vetter, K. J.; Wagaarachchi, S. L.; Wang, G.; Wang, L.; Welliver, B.; Wilson, J.; Wilson, K.; Winslow, L. A.; Xue, M.; Yan, L.; Yang, J.; Yefremenko, V; Yumatov, V; Zarytskyy, M. M.; Zhang, J.; Zolotarova, A.; Zucchelli, S.

Characterization of cubic Li2100MoO4 crystals for the CUPID experiment

EUROPEAN PHYSICAL JOURNAL C

IF4.8

2021-02-0124

Armatol, A.; Armengaud, E.; Armstrong, W.; Augier, C.; Avignone, F. T., III; Azzolini, O.; Barabash, A.; Bari, G.; Barresi, A.; Baudin, D.; Bellini, F.; Benato, G.; Beretta, M.; Berge, L.; Biassoni, M.; Billard, J.; Boldrini, V.; Branca, A.; Brofferio, C.; Bucci, C.; Camilleri, J.; Capelli, S.; Cappelli, L.; Cardani, L.; Carniti, P.; Casali, N.; Cazes, A.; Celi, E.; Chang, C.; Chapellier, M.; Charrier, A.; Chiesa, D.; Clemenza, M.; Colantoni, I.; Collamati, F.; Copello, S.; Cremonesi, O.; Creswick, R. J.; Cruciani, A.; D'Addabbo, A.; D'Imperio, G.; Dafinei, I.; Danevich, F. A.; de Combarieu, M.; De Jesus, M.; de Marcillac, P.; Dell'Oro, S.; Di Domizio, S.; Dompe, V.; Drobizhev, A.; Dumoulin, L.; Fantini, G.; Faverzani, M.; Ferri, E.; Ferri, F.; Ferroni, F.; Figueroa-Feliciano, E.; Formaggio, J.; Franceschi, A.; Fu, C.; Fu, S.; Fujikawa, B. K.; Gascon, J.; Giachero, A.; Gironi, L.; Giuliani, A.; Gorla, P.; Gotti, C.; Gras, P.; Gros, M.; Gutierrez, T. D.; Han, K.; Hansen, E. V.; Heeger, K. M.; Helis, D. L.; Huang, H. Z.; Huang, R. G.; Imbert, L.; Johnston, J.; Juillard, A.; Karapetrov, G.; Keppel, G.; Khalife, H.; Kobychev, V. V.; Kolomensky, Yu. G.; Konovalov, S.; Liu, Y.; Loaiza, P.; Ma, L.; Madhukuttan, M.; Mancarella, F.; Mariam, R.; Marini, L.; Marnieros, S.; Martinez, M.; Maruyama, R. H.; Mauri, B.; Mayer, D.; Mei, Y.; Milana, S.; Misiak, D.; Napolitano, T.; Nastasi, M.; Navick, X. F.; Nikkel, J.; Nipoti, R.; Nisi, S.; Nones, C.; Norman, E. B.; Novosad, V.; Nutini, I.; O'Donnell, T.; Olivieri, E.; Oriol, C.; Ouellet, J. L.; Pagan, S.; Pagliarone, C.; Pagnanini, L.; Pari, P.; Pattavina, L.; Paul, B.; Pavan, M.; Peng, H.; Pessina, G.; Pettinacci, V.; Pira, C.; Pirro, S.; Poda, D. V.; Polakovic, T.; Polischuk, O. G.; Pozzi, S.; Previtali, E.; Puiu, A.; Ressa, A.; Rizzoli, R.; Rosenfeld, C.; Rusconi, C.; Sanglard, V.; Scarpaci, J. A.; Schmidt, B.; Sharma, V.; Shlegel, V.; Singh, V.; Sisti, M.; Speller, D.; Surukuchi, P. T.; Taffarello, L.; Tellier, O.; Tomei, C.; Tretyak, V. I.; Tsymbaliuk, A.; Velazquez, M.; Vetter, K. J.; Wagaarachchi, S. L.; Wang, G.; Wang, L.; Welliver, B.; Wilson, J.; Wilson, K.; Winslow, L. A.; Xue, M.; Yan, L.; Yang, J.; Yefremenko, V.; Yumatov, V.; Zarytskyy, M. M.; Zhang, J.; Zolotarova, A.; Zucchelli, S.

3C-SiC Growth on Inverted Silicon Pyramids Patterned Substrate

MATERIALS

IF3.2

2019-10-1810

OAAI

Integration of InGaP/GaAs/Ge triple-junction solar cells on deeply patterned silicon substrates

PROGRESS IN PHOTOVOLTAICS

IF7.6

2016-07-118

PREAI

Processing-Induced Electrically Active Defects in Black Silicon Nanowire Devices

ACS APPLIED MATERIALS & INTERFACES