未登录Unsupervised real-world knowledge extraction via disentangled variational autoencoders for photon diagnostics
Hartmann, Gregor; Goetzke, Gesa; Duesterer, Stefan; Feuer-Forson, Peter; Lever, Fabiano; Meier, David; Moeller, Felix; Ramirez, Luis Vera; Guehr, Markus; Tiedtke, Kai; Viefhaus, Jens; Braune, Markus .png)
分享.png)
收藏Characterization of megahertz X-ray laser beams by multishot desorption imprints in PMMAVozda, Vojtech; Burian, Tomas; Hajkova, Vera; Juha, Libor; Enkisch, Hartmut; Faatz, Bart; Hermann, Martin; Jacyna, Iwanna; Jurek, Marek; Keitel, Barbara; Klinger, Dorota; Loch, Rolf; Louis, Eric; Makhotkin, Igor A.; Ploenjes, Elke; Saksl, Karel; Siewert, Frank; Sobierajski, Ryszard; Strobel, Sebastian; Tiedtke, Kai; Toleikis, Sven; de Vries, Gosse; Zelinger, Zdenek; Chalupsky, Jaromir 分享 收藏 Mechanism of single-shot damage of Ru thin films irradiated by femtosecond extreme UV free-electron laserMilov, Igor; Makhotkin, Igor A.; Sobierajski, Ryszard; Medvedev, Nikita; Lipp, Vladimir; Chalupsky, Jaromir; Sturm, Jacobus M.; Tiedtke, Kai; de Vries, Gosse; Stoermer, Michael; Siewert, Frank; van de Kruijs, Robbert; Louis, Eric; Jacyna, Iwanna; Jurek, Marek; Juha, Libor; Hajkova, Vera; Vozda, Vojtech; Burian, Tomas; Saksl, Karel; Faatz, Bart; Keitel, Barbara; Ploenjes, Elke; Schreiber, Siegfried; Toleikis, Sven; Loch, Rolf; Hermann, Martin; Strobel, Sebastian; Nienhuys, Han-Kwang; Gwalt, Grzegorz; Mey, Tobias; Enkisch, Hartmut; Bijkerk, Fred 分享 收藏 Contrasting behavior of covalent and molecular carbon allotropes exposed to extreme ultraviolet and soft x-ray free-electron laser radiationToufarova, M.; Hajkova, V.; Chalupsky, J.; Burian, T.; Vacik, J.; Vorlicek, V.; Vysin, L.; Gaudin, J.; Medvedev, N.; Ziaja, B.; Nagasono, M.; Yabashi, M.; Sobierajski, R.; Krzywinski, J.; Sinn, H.; Stoermer, M.; Kolacek, K.; Tiedtke, K.; Toleikis, S.; Juha, L. 分享 收藏 Single-shot Monitoring of Ultrafast Processes via X-ray Streaking at a Free Electron LaserBuzzi, Michele; Makita, Mikako; Howald, Ludovic; Kleibert, Armin; Vodungbo, Boris; Maldonado, Pablo; Raabe, Jorg; Jaouen, Nicolas; Redlin, Harald; Tiedtke, Kai; Oppeneer, Peter M.; David, Christian; Nolting, Frithjof; Luning, Jan 分享 收藏 Role of heat accumulation in the multi-shot damage of silicon irradiated with femtosecond XUV pulses at a 1 MHz repetition rateSobierajski, Ryszard; Jacyna, Iwanna; Dluzewski, Piotr; Klepka, Marcin T.; Klinger, Dorota; Pelka, Jerzy B.; Burian, Tomas; Hajkova, Vera; Juha, Libor; Saksl, Karel; Vozda, Vojtech; Makhotkin, Igor; Louis, Eric; Faatz, Bart; Tiedtke, Kai; Toleikis, Sven; Enkisch, Hartmut; Hermann, Martin; Strobel, Sebastian; Loch, Rolf A.; Chalupsky, Jaromir 分享 收藏 Absolute pulse energy measurements of soft x-rays at the Linac Coherent Light SourceTiedtke, K.; Sorokin, A. A.; Jastrow, U.; Juranic, P.; Kreis, S.; Gerken, N.; Richter, M.; Arp, U.; Feng, Y.; Nordlund, D.; Soufli, R.; Fernandez-Perea, M.; Juha, L.; Heimann, P.; Nagler, B.; Lee, H. J.; Mack, S.; Cammarata, M.; Krupin, O.; Messerschmidt, M.; Holmes, M.; Rowen, M.; Schlotter, W.; Moeller, S.; Turner, J. J. 分享 收藏 Photon energy dependence of graphitization threshold for diamond irradiated with an intense XUV FEL pulseGaudin, J.; Medvedev, N.; Chalupsky, J.; Burian, T.; Dastjani-Farahani, S.; Hajkova, V.; Harmand, M.; Jeschke, H. O.; Juha, L.; Jurek, M.; Klinger, D.; Krzywinski, J.; Loch, R. A.; Moeller, S.; Nagasono, M.; Ozkan, C.; Saksl, K.; Sinn, H.; Sobierajski, R.; Sovak, P.; Toleikis, S.; Tiedtke, K.; Toufarova, M.; Tschentscher, T.; Vorlicek, V.; Vysin, L.; Wabnitz, H.; Ziaja, B. 分享 收藏 Investigating the interaction of x-ray free electron laser radiation with grating structureGaudin, Jerome; Ozkan, Cigdem; Chalupsky, Jaromir; Bajt, Sasa; Burian, Tomas; Vysin, Ludek; Coppola, Nicola; Farahani, Shafagh Dastjani; Chapman, Henry N.; Galasso, Germano; Hajkova, Vera; Harmand, Marion; Juha, Libor; Jurek, Marek; Loch, Rolf A.; Moeller, Stefan; Nagasono, Mitsuru; Stoermer, Michael; Sinn, Harald; Saksl, Karel; Sobierajski, Ryszard; Schulz, Joachim; Sovak, Pavol; Toleikis, Sven; Tiedtke, Kai; Tschentscher, Thomas; Krzywinski, Jacek 分享 收藏 Pulse energy measurement at the hard x-ray laser in JapanKato, M.; Tanaka, T.; Kurosawa, T.; Saito, N.; Richter, M.; Sorokin, A. A.; Tiedtke, K.; Kudo, T.; Tono, K.; Yabashi, M.; Ishikawa, T. 分享 收藏 Time-resolved investigation of nanometer scale deformations induced by a high flux x-ray beamGaudin, J.; Keitel, B.; Jurgilaitis, A.; Nuske, R.; Guerin, L.; Larsson, J.; Mann, K.; Schaefer, B.; Tiedtke, K.; Trapp, A.; Tschentscher, Th; Yang, F.; Wulff, M.; Sinn, H.; Floeter, B. 分享 收藏 Damage mechanisms of MoN/SiN multilayer optics for next-generation pulsed XUV light sourcesSobierajski, R.; Bruijn, S.; Khorsand, A. R.; Louis, E.; de Kruijs, R. W. E. van; Burian, T.; Chalupsky, J.; Cihelka, J.; Gleeson, A.; Grzonka, J.; Gullikson, E. M.; Hajkova, V.; Hau-Riege, S.; Juha, L.; Jurek, M.; Klinger, D.; Krzywinski, J.; London, R.; Pelka, J. B.; Plocinski, T.; Rasinski, M.; Tiedtke, K.; Toleikis, S.; Vysin, L.; Wabnitz, H.; Bijkerk, F. 分享 收藏 Spot size characterization of focused non-Gaussian X-ray laser beamsChalupsky, J.; Krzywinski, J.; Juha, L.; Hajkova, V.; Cihelka, J.; Burian, T.; Vysin, L.; Gaudin, J.; Gleeson, A.; Jurek, M.; Khorsand, A. R.; Klinger, D.; Wabnitz, H.; Sobierajski, R.; Stoermer, M.; Tiedtke, K.; Toleikis, S. 分享 收藏 Single shot damage mechanism of Mo/Si multilayer optics under intense pulsed XUV-exposureKhorsand, A. R.; Sobierajski, R.; Louis, E.; Bruijn, S.; van Hattum, E. D.; van de Kruijs, R. W. E.; Jurek, M.; Klinger, D.; Pelka, J. B.; Juha, L.; Burian, T.; Chalupsky, J.; Cihelka, J.; Hajkova, V.; Vysin, L.; Jastrow, U.; Stojanovic, N.; Toleikis, S.; Wabnitz, H.; Tiedtke, K.; Sokolowski-Tinten, K.; Shymanovich, U.; Krzywinski, J.; Hau-Riege, S.; London, R.; Gleeson, A.; Gullikson, E. M.; Bijkerk, F. 分享 收藏 Wavelength dependence of the damage threshold of inorganic materials under extreme-ultraviolet free-electron-laser irradiationHau-Riege, S. P.; London, R. A.; Bionta, R. M.; Ryutov, D.; Soufli, R.; Bajt, S.; McKernan, M. A.; Baker, S. L.; Krzywinski, J.; Sobierajski, R.; Nietubyc, R.; Klinger, D.; Pelka, J. B.; Jurek, M.; Juha, L.; Chalupsky, J.; Cihelka, J.; Hajkova, V.; Velyhan, A.; Krasa, J.; Tiedtke, K.; Toleikis, S.; Wabnitz, H.; Bergh, M.; Caleman, C.; Timneanu, N. 分享 收藏 Damage of amorphous carbon induced by soft x-ray femtosecond pulses above and below the critical angleChalupsky, J.; Hajkova, V.; Altapova, V.; Burian, T.; Gleeson, A. J.; Juha, L.; Jurek, M.; Sinn, H.; Stoermer, M.; Sobierajski, R.; Tiedtke, K.; Toleikis, S.; Tschentscher, Th.; Vysin, L.; Wabnitz, H.; Gaudin, J. 分享 收藏 Non-thermal desorption/ablation of molecular solids induced by ultra-short soft x-ray pulsesChalupsky, J.; Juha, L.; Hajkova, V.; Cihelka, J.; Vysin, L.; Gautier, J.; Hajdu, J.; Hau-Riege, S. P.; Jurek, M.; Krzywinski, J.; London, R. A.; Papalazarou, E.; Pelka, J. B.; Rey, G.; Sebban, S.; Sobierajski, R.; Stojanovic, N.; Tiedtke, K.; Toleikis, S.; Tschentscher, T.; Valentin, C.; Wabnitz, H.; Zeitoun, P. 分享 收藏 Spatio - temporal coherence of free electron laser pulses in the soft x-ray regimeMitzner, R.; Siemer, B.; Neeb, M.; Noll, T.; Siewert, F.; Roling, S.; Rutkowski, M.; Sorokin, A. A.; Richter, M.; Juranic, P.; Tiedtke, K.; Feldhaus, J.; Eberhardt, W.; Zacharias, H. 分享 收藏 Operation of a free-electron laser from the extreme ultraviolet to the water window从极紫外到水窗的自由电子激光器的操作Ackermann, W.; Asova, G.; Ayvazyan, V.; Azima, A.; Baboi, N.; Baehr, J.; Balandin, V.; Beutner, B.; Brandt, A.; Bolzmann, A.; Brinkmann, R.; Brovko, O. I.; Castellano, M.; Castro, P.; Catani, L.; Chiadroni, E.; Choroba, S.; Cianchi, A.; Costello, J. T.; Cubaynes, D.; Dardis, J.; Decking, W.; Delsim-Hashemi, H.; Delserieys, A.; Di Pirro, G.; Dohlus, M.; Duesterer, S.; Eckhardt, A.; Edwards, H. T.; Faatz, B.; Feldhaus, J.; Floettmann, K.; Frisch, J.; Froehlich, L.; Garvey, T.; Gensch, U.; Gerth, Ch.; Goerler, M.; Golubeva, N.; Grabosch, H.-J.; Grecki, M.; Grimm, O.; Hacker, K.; Hahn, U.; Han, J. H.; Honkavaara, K.; Hott, T.; Huening, M.; Ivanisenko, Y.; Jaeschke, E.; Jalmuzna, W.; Jezynski, T.; Kammering, R.; Katalev, V.; Kavanagh, K.; Kennedy, E. T.; Khodyachykh, S.; Klose, K.; Kocharyan, V.; Koerfer, M.; Kollewe, M.; Koprek, W.; Korepanov, S.; Kostin, D.; Krassilnikov, M.; Kube, G.; Kuhlmann, M.; Lewis, C. L. S.; Lilje, L.; Limberg, T.; Lipka, D.; Loehl, F.; Luna, H.; Luong, M.; Martins, M.; Meyer, M.; Michelato, P.; Miltchev, V.; Moeller, W. D.; Monaco, L.; Mueller, W. F. O.; Napieralski, Andrzej; Napoly, O.; Nicolosi, P.; Noelle, D.; Nunez, T.; Oppelt, A.; Pagani, C.; Paparella, R.; Pchalek, N.; Pedregosa-Gutierrez, J.; Petersen, B.; Petrosyan, B.; Petrosyan, G.; Petrosyan, L.; Pflueger, J.; Ploenjes, E.; Poletto, L.; Pozniak, K.; Prat, E.; Proch, D.; Pucyk, P.; Radcliffe, P.; Redlin, H.; Rehlich, K.; Richter, M.; Roehrs, M.; Roensch, J.; Romaniuk, R.; Ross, M.; Rossbach, J.; Rybnikov, V.; Sachwitz, M.; Saldin, E. L.; Sandner, W.; Schlarb, H.; Schmidt, B.; Schmitz, M.; Schmueser, P.; Schneider, J. R.; Schneidmiller, E. A.; Schnepp, S.; Schreiber, S.; Seidel, M.; Sertore, D.; Shabunov, A. V.; Simon, C.; Simrock, S.; Sombrowski, E.; Sorokin, A. A.; Spanknebel, P.; Spesyvtsev, R.; Staykov, L.; Steffen, B.; Stephan, F.; Stulle, F.; Thom, H.; Tiedtke, K.; Tischer, M.; Toleikis, S.; Treusch, R.; Trines, D.; Tsakov, I.; Vogel, E.; Weiland, T.; Weise, H.; Wellhoeffer, M.; Wendt, M.; Will, I.; Winter, A.; Wittenburg, K.; Wurth, W.; Yeates, P.; Yurkov, M. V.; Zagorodnov, I.; Zapfe, K. 分享 收藏 Damage threshold of inorganic solids under free-electron-laser irradiation at 32.5 nm wavelengthHau-Riege, S. P.; London, R. A.; Bionta, R. M.; McKernan, M. A.; Baker, S. L.; Krzywinski, J.; Sobierajski, R.; Nietubyc, R.; Pelka, J. B.; Jurek, M.; Juha, L.; Chalupsky, J.; Cihelka, J.; Hajkova, V.; Velyhan, A.; Krasa, J.; Kuba, J.; Tiedtke, K.; Toleikis, S.; Tschentscher, Th.; Wabnitz, H.; Bergh, M.; Caleman, C.; Sokolowski-Tinten, K.; Stojanovic, N.; Zastrau, U. 分享 收藏 
.png){kind=icon}
.png){kind=icon}
.png){kind=icon}
.png){kind=icon}
