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Medium energy ion scattering for the high depth resolution characterisation of high-k dielectric layers of nanometer thickness van den Berg, J. A.; Reading, M. A.; Bailey, P.; Noakes, T. C. Q.; Adelmann, C.; Popovici, M.; Tielens, H.; Conard, T.; de Gendt, S.; van Elshocht, S. 分享 收藏
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Two- and three-dimensional growth of Bi on i-Al-Pd-Mn studied using medium-energy ion scattering Noakes, T. C. Q.; Bailey, P.; McConville, C. F.; Draxler, M.; Walker, M.; Brown, M. G.; Hentz, A.; Woodruff, D. P.; Lograsso, T. A.; Ross, A. R.; Smerdon, J. A.; Leung, L.; McGrath, R. 分享 收藏
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Differential Hall characterisation of ultrashallow doping in advanced Si-based materials Bennett, N. S.; Cowern, N. E. B.; Smith, A. J.; Kah, M.; Gwilliam, R. M.; Sealy, B. J.; Noakes, T. C. Q.; Bailey, P.; Giubertoni, D.; Bersani, M. 分享 收藏
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Constraints on micro-Raman strain metrology for highly doped strained Si materials O'Reilly, L.; Horan, K.; McNally, P. J.; Bennett, N. S.; Cowern, N. E. B.; Lankinen, A.; Sealy, B. J.; Gwilliam, R. M.; Noakes, T. C. Q.; Bailey, P. 分享 收藏
Barrier and porous anodic oxides on InSb InSb上的势垒和多孔阳极氧化物 Suleiman, A.; Hashimoto, T.; Skeldon, P.; Thompson, G. E.; Echeverria, F.; Graham, M. J.; Sproule, G. I.; Moisa, S.; Habazaki, H.; Bailey, P.; Noakes, T. C. Q. 分享 收藏
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