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收藏Focused Ion Beam-Transmission Electron Microscopy Characterizations in Perovskite-Based Optoelectronic Device: Applications, Challenges, and Perspectives聚焦离子束-透射电子显微镜在钙钛矿基光电器件表征中的应用、挑战与展望
Bao, Lixia; Hou, Yiqing; Song, Tinglu; Yang, Xinyu; Liu, Xu; Hao, Jiaman; Li, Ran; Wang, Ruina; Gao, Peifeng; Xu, Fan
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