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Shuhui Li

shanghai jiao tong university
H指数:50
被引数:1.4万

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荣誉奖项

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K+-Triggered Defect Engineering and Proton-Coupled Storage in V2O5·nH2O for Advanced Zn-Ion Thin-Film and Microbatteries

K+-触发的缺陷工程和在V2O5·nH2O中的质子耦合存储,用于先进的锌离子薄膜和微电池

2026-05-290
OAAI