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John M. Carulli

honeywell

18H指数
61论文数
1.4K被引数
收录论文 1
发表时间
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Counterfeit Integrated Circuits: A Rising Threat in the Global Semiconductor Supply Chain假冒集成电路: 全球半导体供应链中日益严重的威胁
errPROCEEDINGS OF THE IEEE
IF25.9
err2014-08-01
err420
errOAAI
errGuin, Ujjwal; Huang, Ke; DiMase, Daniel; Carulli, John M., Jr.; Tehranipoor, Mohammad; Makris, Yiorgos
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研究方向

暂无研究方向
合作学者
合作期刊
M
Mohammad Tehranipoor
H 指数: 47 · 论文数: 175
Y
Yiorgos Makris
H 指数: 34 · 论文数: 282
D
Daniel DiMase
H 指数: 10 · 论文数: 17
K
Ke Huang
H 指数: 0 · 论文数: 0
G
Guin, Ujjwal
H 指数: 0 · 论文数: 1
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