Shinozuka, Y.; Clarke, A. D.; Nenes, A.; Jefferson, A.; Wood, R.; McNaughton, C. S.; Strom, J.; Tunved, P.; Redemann, J.; Thornhill, K. L.; Moore, R. H.; Lathem, T. L.; Lin, J. J.; Yoon, Y. J.
Mann, G. W.; Carslaw, K. S.; Reddington, C. L.; Pringle, K. J.; Schulz, M.; Asmi, A.; Spracklen, D. V.; Ridley, D. A.; Woodhouse, M. T.; Lee, L. A.; Zhang, K.; Ghan, S. J.; Easter, R. C.; Liu, X.; Stier, P.; Lee, Y. H.; Adams, P. J.; Tost, H.; Lelieveld, J.; Bauer, S. E.; Tsigaridis, K.; van Noije, T. P. C.; Strunk, A.; Vignati, E.; Bellouin, N.; Dalvi, M.; Johnson, C. E.; Bergman, T.; Kokkola, H.; von Salzen, K.; Yu, F.; Luo, G.; Petzold, A.; Heintzenberg, J.; Clarke, A.; Ogren, A.; Gras, J.; Baltensperger, U.; Kaminski, U.; Jennings, S. G.; O'Dowd, C. D.; Harrison, R. M.; Beddows, D. C. S.; Kulmala, M.; Viisanen, Y.; Ulevicius, V.; Mihalopoulos, N.; Zdimal, V.; Fiebig, M.; Hansson, H-C; Swietlicki, E.; Henzing, J. S.
Bandy, Alan; Faloona, Ian C.; Blomquist, Byron W.; Huebert, Barry J.; Clarke, Antony D.; Howell, Steven G.; Mauldin, R. L.; Cantrell, Christopher A.; Hudson, James G.; Heikes, Brian G.; Merrill, John T.; Wang, Yuhang; O'Sullivan, Daniel W.; Nadler, Wolfgang; Davis, Douglas D.
Yang, M.; Huebert, B. J.; Blomquist, B. W.; Howell, S. G.; Shank, L. M.; McNaughton, C. S.; Clarke, A. D.; Hawkins, L. N.; Russell, L. M.; Covert, D. S.; Coffman, D. J.; Bates, T. S.; Quinn, P. K.; Zagorac, N.; Bandy, A. R.; de Szoeke, S. P.; Zuidema, P. D.; Tucker, S. C.; Brewer, W. A.; Benedict, K. B.; Collett, J. L.
Shinozuka, Y.; Redemann, J.; Livingston, J. M.; Russell, P. B.; Clarke, A. D.; Howell, S. G.; Freitag, S.; O'Neill, N. T.; Reid, E. A.; Johnson, R.; Ramachandran, S.; McNaughton, C. S.; Kapustin, V. N.; Brekhovskikh, V.; Holben, B. N.; McArthur, L. J. B.
Jacob, D. J.; Crawford, J. H.; Maring, H.; Clarke, A. D.; Dibb, J. E.; Emmons, L. K.; Ferrare, R. A.; Hostetler, C. A.; Russell, P. B.; Singh, H. B.; Thompson, A. M.; Shaw, G. E.; McCauley, E.; Pederson, J. R.; Fisher, J. A.