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Chris Chan

nxp semiconductors

5H指数
14论文数
163被引数
收录论文 1
发表时间
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Getting More From the Semiconductor Test: Data Mining With Defect-Cluster Extraction
errIEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT
IF5.9
err2011-10-01
err30
PREAI
errOoi, Melanie Po-Leen; Sim, Eric Kwang Joo; Kuang, Ye Chow; Serge Demidenko; Kleeman, Lindsay; Chan, Chris Wei Keong
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研究方向

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合作学者
合作期刊
L
Lindsay Kleeman
H 指数: 30 · 论文数: 160
S
Serge Demidenko
H 指数: 28 · 论文数: 217
M
Melanie Po‐Leen Ooi
H 指数: 22 · 论文数: 172
Y
Ye Chow Kuang
H 指数: 20 · 论文数: 162
S
Sim, Eric Kwang Joo
H 指数: 0 · 论文数: 1
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