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S
S. Ghosh
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1
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IF
被引数
A built-in self-testing method for embedded multiport memory Arrays
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT
IF
5.9
2005-10-01
4
OA
AI
Narayanan, V; Ghosh, S; Jone, WB; Das, SR
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合作学者
合作期刊
W
W.B. Jone
H 指数: 13 · 论文数: 79
D
Das, SR
H 指数: 0 · 论文数: 1
N
Narayanan, V
H 指数: 0 · 论文数: 1
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