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Weining Gu
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IF
被引数
Reliability MicroKernel: Providing application-aware reliability in the OS
IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY
IF
5.7
2007-12-01
16
PRE
AI
Wang, Long; Kalbarczyk, Zbighiew; Gu, Weining; Lyer, Ravishankar K.
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合作期刊
王龙
(Long Wang)
H 指数: 94 · 论文数: 2.1K
Z
Zbigniew Kalbarczyk
H 指数: 44 · 论文数: 299
L
Lyer, Ravishankar K.
H 指数: 0 · 论文数: 1
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