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Kim, Seong Han

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发表时间
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Surface defect detection using distributed features基于分布式特征的表面缺陷检测
errENGINEERING APPLICATIONS OF ARTIFICIAL INTELLIGENCE
IF8
err2025-07-01
err0
PREAI
errLe, The Van; Joshua, Jordan Daniel; Kim, Taehwan; Lee, Jinhyuk; Kim, Seong Han; Lee, Jin Young
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研究方向

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合作学者
合作期刊
J
Jinhyuk Lee
H 指数: 25 · 论文数: 91
T
Tae-Hwan Kim
H 指数: 24 · 论文数: 152
T
The Van Le
H 指数: 3 · 论文数: 15
J
Jordan Daniel Joshua
H 指数: 1 · 论文数: 4
L
Lee, Jin Young
H 指数: 0 · 论文数: 1
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