logo
科言猫学术研究的AI总结
language
手机端手机端
  • Phone Feature微信小程序
简体中文简体中文
notice消息通知
博客博客
delete
arrow
返回
M

M. Zoaeter

机构信息待补充

13H指数
46论文数
449被引数
收录论文 2
发表时间
logo
Characterization and depth profiles measurements of silicon nitride thin films on silicon and molybdenum substrates by Auger electron spectroscopy
errCOMPUTATIONAL MATERIALS SCIENCE
IF3.3
err2005-04-01
err2
PREAI
errFakih, C; Fakih, GB; Kaafarani, A; Zoaeter, M; Bes, RS; Berjoan, R
err分享
err收藏
Tellurium depletion electrical effects in MoTe2-x single crystals doped with bromine
errJOURNAL OF MATERIALS SCIENCE
IF3.9
err1997-01-01
err10
PREAI
errMorsli, M; Bonnet, A; Jousseaume, V; Cattin, L; Conan, A; Zoaeter, M
err分享
err收藏

研究方向

暂时未获取到该数据
合作学者
合作期刊
M
M. Morsli
H 指数: 31 · 论文数: 157
L
L. Cattin
H 指数: 29 · 论文数: 148
A
A. Bonnet
H 指数: 24 · 论文数: 126
A
A. Conan
H 指数: 14 · 论文数: 58
A
Ali El Kaafarani
H 指数: 10 · 论文数: 20
查看更多