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S
S. Huynh
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Automatic analog test signal generation using multifrequency analysis
IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS II-EXPRESS BRIEFS
IF
4.9
1999-05-01
43
PRE
AI
Huynh, SD; Kim, S; Soma, M; Zhang, JY
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合作学者
合作期刊
张
张金彦
(Jinyan Zhang)
H 指数: 31 · 论文数: 362
M
M. Soma
H 指数: 27 · 论文数: 157
S
Seongwon Kim
H 指数: 19 · 论文数: 93
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