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Ralf Seidler

机构信息待补充

4H指数
23论文数
57被引数
收录论文 1
发表时间
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Fast image processing for optical metrology utilizing heterogeneous computer architectures
errCOMPUTERS & ELECTRICAL ENGINEERING
IF4.9
err2014-05-01
err6
errOAAI
errReichenbach, Marc; Seidler, Ralf; Pfundt, Benjamin; Fey, Dietmar
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研究方向

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合作学者
合作期刊
D
Dietmar Fey
H 指数: 17 · 论文数: 311
M
Marc Reichenbach
H 指数: 13 · 论文数: 138
B
Benjamin Pfundt
H 指数: 5 · 论文数: 14
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