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Chih-Ang Chen

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收录论文 1

发表时间

BIST test pattern generators for two-pattern testing - Theory and design algorithms 用于两种模式测试的BIST测试模式生成器-理论和设计算法

IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS

IF3.8

1996-03-01

32

PREAI

Chen, CA; Gupta, SK

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