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Y
Yinxin Guo
Dalian University of Technology
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37
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1
发表时间
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IF
被引数
Using technological entropy to identify technology life cycle
JOURNAL OF INFORMETRICS
IF
3.5
2021-05-01
24
PRE
AI
Lin, Deming; Liu, Wenbin; Guo, Yinxin; Meyer, Martin
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研究方向
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合作学者
合作期刊
M
Martin Meyer
H 指数: 51 · 论文数: 470
W
Wenbin Liu
H 指数: 30 · 论文数: 206
D
Deming Lin
H 指数: 4 · 论文数: 13
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