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Hyeong Kon Bae

Korea University

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收录论文 1
发表时间
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ZEC ECC: A Zero-Byte Eliminating Compression-Based ECC Scheme for DRAM Reliability
errIEEE ACCESS
IF3.6
err2024-01-01
err0
errOAAI
errKwon, Ji Hun; Bae, Hyeong Kon; Lee, Young Seo; Gong, Young-Ho; Chung, Sung Woo
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研究方向

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合作学者
合作期刊
S
Sung Woo Chung
H 指数: 21 · 论文数: 146
Y
Young Seo Lee
H 指数: 10 · 论文数: 29
Y
Young‐Ho Gong
H 指数: 7 · 论文数: 26
J
Ji Hun Kwon
H 指数: 2 · 论文数: 5
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