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Hwajung Kim

seoul national university of science and technology

1H指数
10论文数
4被引数
收录论文 2
发表时间
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Systematic Analysis of Feature and Classifier Configurations for Wafer Defect Pattern Recognition晶圆缺陷模式识别中特征和分类器配置的系统性分析
errIEEE Access
IF3.6
err2026-07-27
err0
errOAAI
errTaehyeon Kim; Byeong Chan Go; Hwajung Kim
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Validity Tracking Based Log Management for In-Memory Databases
errIEEE ACCESS
IF3.6
err2021-01-01
err1
errOAAI
errLee, Kwangjin; Kim, Hwajung; Yeom, Heon Y.
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研究方向

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合作学者
合作期刊
H
Heon Y. Yeom
H 指数: 25 · 论文数: 329
K
Kwang-Jin Lee
H 指数: 4 · 论文数: 19
T
Taehyeon Kim
H 指数: 0 · 论文数: 1
B
Byeong Chan Go
H 指数: 0 · 论文数: 1
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