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Vedvrat

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Interface Trap-Induced Impact in Linearity and Small-Signal Performance of InAs-Channel TFETs: Reliability Implications (Vol 70, pg 61, 2025)界面陷阱诱导的线性度和小信号性能影响：InAs-Channel TFETs 的可靠性含义（卷 70，页 61，2025）
errDoklady Physics
IF0.5
err2025-12-01
err0
PREAI
errVedvrat; Sachan, Rajeev Kumar
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研究方向

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合作学者
合作期刊
R
Rajeev Kumar Sachan
H 指数: 2 · 论文数: 7
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