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Baghel, Shanya

indian institute of technology system (iit system)

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Robust Bayesian inference for nondestructive one-shot device testing data under competing risk using Hamiltonian Monte Carlo method基于汉密尔顿蒙特卡洛方法在竞争风险下对非破坏性一次性设备测试数据的鲁棒贝叶斯推断
errJournal of Applied Statistics
IF1.1
err2026-01-01
err0
PREAI
errBaghel, Shanya; Mondal, Shuvashree
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研究方向

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合作学者
合作期刊
S
Shuvashree Mondal
H 指数: 8 · 论文数: 29
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