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Guo, Junjie

nanjing university of posts & telecommunications

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The shift to data-driven microelectronics: machine learning for MOSFET modeling, design, and reliability数据驱动微电子学的转变：机器学习在MOSFET建模、设计和可靠性中的应用
errJournal of Computational Electronics
IF2.5
err2026-05-09
err0
PREAI
errZhang, Qianhao; Guo, Junjie; Jiang, Chaoqun; Yao, Jingyu; Tao, Zhikuo
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研究方向

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合作学者
合作期刊
Z
Zhikuo Tao
H 指数: 8 · 论文数: 46
C
Chaoqun Jiang
H 指数: 2 · 论文数: 9
Z
Zhang, Qianhao
H 指数: 0 · 论文数: 1
Y
Yao, Jingyu
H 指数: 0 · 论文数: 1
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