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Yu, Peng

Chinese Academy of Sciences

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Quantifying the localized electrical interface using a force-controlled scanning ion conductance microscopy利用力控制扫描离子电导显微镜量化局部电学界面
errJournal of Colloid and Interface Science
IF9.7
err2026-09-29
err0
PREAI
errWang, Hongyu; Shi, Huiyao; Tang, Si; Wang, Dingyi; Yu, Peng; Su, Chanmin; Liu, Lianqing
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研究方向

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合作学者
合作期刊
C
Chanmin Su
H 指数: 21 · 论文数: 79
S
Si Tang
H 指数: 10 · 论文数: 36
H
Huiyao Shi
H 指数: 5 · 论文数: 28
L
Liu, Lianqing
H 指数: 0 · 论文数: 1
W
Wang, Dingyi
H 指数: 0 · 论文数: 1
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