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Yang, Chiung-Jung
natl cheng kung univ
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Enhanced wafer map defect pattern classification through stacking ensemble method and data augmentation integration
通过堆叠集成方法和数据增强集成增强的晶圆图缺陷模式分类
JOURNAL OF SUPERCOMPUTING
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2.7
2025-03-22
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AI
Yang, Chiung-Jung; Chen, Yu-Han; Hsieh, Sun-Yuan
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Y
Yuhan Chen
H 指数: 39 · 论文数: 281
S
Sun‐Yuan Hsieh
H 指数: 0 · 论文数: 14
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