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Yang, Chiung-Jung

natl cheng kung univ

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Enhanced wafer map defect pattern classification through stacking ensemble method and data augmentation integration通过堆叠集成方法和数据增强集成增强的晶圆图缺陷模式分类
errJOURNAL OF SUPERCOMPUTING
IF2.7
err2025-03-22
err0
PREAI
errYang, Chiung-Jung; Chen, Yu-Han; Hsieh, Sun-Yuan
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研究方向

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合作学者
合作期刊
Y
Yuhan Chen
H 指数: 39 · 论文数: 281
S
Sun‐Yuan Hsieh
H 指数: 0 · 论文数: 14
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