Bakker, D. C. E.; Pfeil, B.; Smith, K.; Hankin, S.; Olsen, A.; Alin, S. R.; Cosca, C.; Harasawa, S.; Kozyr, A.; Nojiri, Y.; O'Brien, K. M.; Schuster, U.; Telszewski, M.; Tilbrook, B.; Wada, C.; Akl, J.; Barbero, L.; Bates, N. R.; Boutin, J.; Bozec, Y.; Cai, W. -J.; Castle, R. D.; Chavez, F. P.; Chen, L.; Chierici, M.; Currie, K.; de Baar, H. J. W.; Evans, W.; Feely, R. A.; Fransson, A.; Gao, Z.; Hales, B.; Hardman-Mountford, N. J.; Hoppema, M.; Huang, W. -J.; Hunt, C. W.; Huss, B.; Ichikawa, T.; Johannessen, T.; Jones, E. M.; Jones, S. D.; Jutterstrom, S.; Kitidis, V.; Koertzinger, A.; Landschuetzer, P.; Lauvset, S. K.; Lefevre, N.; Manke, A. B.; Mathis, J. T.; Merlivat, L.; Metzl, N.; Murata, A.; Newberger, T.; Omar, A. M.; Ono, T.; Park, G. -H.; Paterson, K.; Pierrot, D.; Rios, A. F.; Sabine, C. L.; Saito, S.; Salisbury, J.; Sarma, V. V. S. S.; Schlitzer, R.; Sieger, R.; Skjelvan, I.; Steinhoff, T.; Sullivan, K. F.; Sun, H.; Sutton, A. J.; Suzuki, T.; Sweeney, C.; Takahashi, T.; Tjiputra, J.; Tsurushima, N.; van Heuven, S. M. A. C.; Vandemark, D.; Vlahos, P.; Wallace, D. W. R.; Wanninkhof, R.; Watson, A. J.