J. M. Roney

Belle和 Belle II实验中${B}^{0}\to {K}_{\text{S}}^{0}{\pi }^{0}\gamma$衰变的时间相关CP破坏参数测量

提高 Belle 和 Belle II 实验中 χbJ ω 和 χbJ (π+π−π0)non−ω (J = 0, 1, 2) 的博恩截面测量

在Belle II中搜索违反轻子味选择定则的τ− → e∓ℓ±ℓ−衰变

在 Belle 实验中通过 B → K(*)a(→ γγ) 衰变搜索轴子类粒子

Belle II实验中B → K*(892)γ衰变的测量

在 Belle 和 Belle II 上的 $${\Xi }_{c}^{+}\to {\Sigma }^{+}{K}_{S}^{0}$$、$${\Xi }_{c}^{+}\to {\Xi }^{0}{\pi }^{+}$$ 和 $${\Xi }_{c}^{+}\to {\Xi }^{0}{K}+$$ 的分支比测量

在Belle和 Belle II上搜索违反轻子味守恒的$${\tau }^{-}\to {{\ell}}^{-}{K}_{s}^{0}$$衰变

Belle II处e e- → B(B) 过杆，B(B) 过杆 * 和B *(B) 过杆 * 横截面的能量依赖性的测量

测量Belle II处 (B) 超bar → D(*) k-k (*)0(S) 和 (B) 超bar → D(*) d-s衰变的分支分数

Belle II的 Γ(10753) 衰变为 ππ-Γ (nS) 最终态的研究