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收藏On the Abnormal Reduction and Recovery of Dynamic RON Under UIS Stress in Schottky p-GaN Gate HEMTs
Liu, Chao; Chen, Xinghuan; Sun, Ruize; Lai, Jingxue; Chen, Wanjun; Xin, Yajie; Wang, Fangzhou; Wang, Xiaoming; Li, Zhaoji; Zhang, Bo
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