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Chen-Tao Hsu

Department of Computer Science

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Comparison of spatial and frequency domain methods for detecting linear texture defects on yarn package surface比较空间域和频域方法在检测纱筒表面线性纹理缺陷中的应用
errThe International Journal of Advanced Manufacturing Technology
IF0
err2025-12-16
err0
PREAI
errJen-Hui Chuang; Chih-Hung Liu; Yi Kuo; Chen-Tao Hsu
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研究方向

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合作学者
合作期刊
J
Jen‐Hui Chuang
H 指数: 20 · 论文数: 140
C
Chih-Hung Liu
H 指数: 12 · 论文数: 74
Y
Yi Chun Kuo
H 指数: 6 · 论文数: 31
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