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Jong Sik Lee

Inha University

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A Serial-Number-Level Cumulative-Risk Framework for Yield Monitoring and Inspection Prioritization in Semiconductor Manufacturing一种基于序列号级累积风险框架的半导体制造中的良率监控与检验优先级排序方法
errElectronics
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err2026-04-07
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A BFS-Based DEVS Simulation Kernel for HDL-Compatible Simulation基于BFS的DEVS仿真内核，适用于HDL兼容仿真
errElectronics 2026, Vol. 15, Page 48
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errBo Seung Kwon; Young Shin Han; Jong Sik Lee
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合作学者
合作期刊
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Bo Seung Kwon
H 指数: 0 · 论文数: 2
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Young Shin Han
H 指数: 0 · 论文数: 2
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Seong Min Ryu
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