S
Sangwoo Lim
H指数:29
被引数:3,307
个人简介
暂无内容
教育背景
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工作经历
暂无内容
荣誉奖项
暂无内容
通过SiGe表面钝化和NH4OH-(CH3)3COH-(NH4)2S体系中的横向损耗抑制实现Si纳米片在三维半导体器件中的缩放
了解F-,HF和HF2-to对SiO2蚀刻的贡献,并揭示反应动力学以表示pH 5以下的SiO2蚀刻行为
通过在过氧乙酸溶液中形成羟基自由基促进表面氧化来增强选择性SiGe溶解
DALTON TRANSACTIONS
IF3.3
界面ZnS钝化改善透明ZnO/CuI二极管特性
DALTON TRANSACTIONS
IF3.3

