未登录
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏Turning point identification via exploring the thickness dependence of magnetoresistance in polycrystalline Fe3O4 thin films通过探索多晶Fe₃O₄薄膜磁阻的厚度依赖性进行转折点识别
Dong, Wenhao; Chen, Xiaoman; Guo, Qingjie; Li, Xin; Chen, Shixin; Zhai, Ya; Qu, Yi; Li, Lin; Li, Gongjie; Sun, Li
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏
分享
收藏