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谢
谢意 (Yi Xie)
H指数:18
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个人简介
"谢意，女，1985年生，中共党员，博士，助理研究员，毕业于四川大学电子信息专业。\n长期从事微波/毫米波技术研究，主要围绕微波/毫米波无源器件设计、高频集成系统协同设计及微波感知与无损检测等方向开展研究工作。研究方向包括：微波/毫米波无源器件智能设计与优化、高频集成系统电磁协同设计与封装集成技术，以及微波感知与无损检测中的传感器设计和智能识别方法研究。\n在微波无源器件高效设计、高频集成结构电磁协同优化、复杂场景下微波检测与缺陷识别等方面取得多项创新成果。主持国家级科研项目1项，承担省部级及市厅级科研项目多项，发表高水平学术论文10余篇。相关成果在微波毫米波器件设计、集成系统开发及无损检测领域具有较好的理论意义和工程应用价值。\n【研究方向】\n1. 微波/毫米波无源器件智能设计与优化\n2. 高频集成系统电磁协同设计与封装集成技术\n3. 微波感知与无损检测传感器及智能识别方法\n【在研项目】\n1. 四通道射频芯片研发（2023ZDZX0014）, 四川省首批重大科技专项, 参研单位负责人\n【完成项目】\n1．基于深度学习的缺陷检测软件，国防科技创新特区项目，国家级，项目负责人，2024年6月完成。\n2．C919大飞机防撞系统多模实时核心处理设备研制及应用示范（2023-JB00-00019-GX），成都市科技厅项目，参研单位负责人 ，2026年5月完成\n【发表论文】\n1. Xie Y, Zhao Y, Sun X, Liu J. A novel microwave NDT technique for precise defect evaluation in non-metallic materials. Engineering Research Express. 2026 Jan 1;8(2):025321.\n2. Xie Y, Yang X, Su P, et al. A Microwave Time Domain Reflectometry Technique Combining the Wavelet Decomposition Analysis and Artificial Neural Network for Detection of Defects in Dielectric Structures[J]. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 2022, 71: 1-11.\n3. Xie Y, Yang X, Yuan J, et al. Non-destructive evaluation of pipes by microwave techniques and artificial neural networks[J]. Measurement Science and Technology, 2020, 31(12): 125402.\n4. Xie Y, Yang X, Xiao H, et al. A split-ring resonator probe for assessing subsurface wood defects[J]. Review of Scientific Instruments, 2019, 90(12): 125004.\n5. Peng H, Yang X, Long S, Y Xie, et al. Design and Fabrication of 3-D Printed RF Temperature Sensor Based on Microwave Coaxial Resonator[J]. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 2023.\n6. Peng H, Yang X, Gao F, Zhang T, Xie Y, et al. A Sensor for Real-Time Online Monitoring of the Rotor Axial Displacement of Aero-engine Based on Microwave Coaxial Resonator[J]. IEEE Sensors Journal, 2023.\n7. Yang X, Wang Z, Su P, Xie Y, et al. A Method for Detecting Metal Surface Cracks Based on Coaxial Resonator[J]. IEEE Sensors Journal, 2021, 21(15): 16644-16650.\n8. J. L. Chen, J. Lei, P. Q. Su, X. X. Lei, Y. Xie, et al. Detection of defects in non-metallic composite material based on electronically controlled spoof surface plasmon polaritons[J]. IEEE Sensors Journal, 2020, 21(3): 2883-2890.\n9. Yang X, Chen J, Xie Y, et al. Detection of surface defects in film-coated metals and measurement of coating thickness[J]. Review of Scientific Instruments, 2019, 90(9): 095005.\n10. Yang X, Chen J, Su P, Lei X, Lei J, Xie Y, et al. Detection of defects in film-coated metals and non-metallic materials based on spoof surface plasmon polaritons[J]. IEEE Sensors Journal, 2019, 19(24): 11891-11899.\n【专利情况】\n1. 授权发明专利：一种非金属材料内部缺陷埋深高精度定量检测方法 第一发明人，专利号：ZL 202410573352.X。该专利面向非金属材料内部缺陷检测应用，形成了基于微波检测信号的缺陷定量识别方法。\n2. 受理发明专利：基于对称矩形漏波波导的高聚焦特性近场天线 第一发明人，申请号：202610327295.6。本发明公开了基于对称矩形漏波波导的高聚焦特性近场天线，涉及微波天线技术领域，通过对称波束的相干叠加，使得聚焦光斑在纵向和横向上的分布更加均匀，可提高缺陷检测效率。\n【联系方式】\n电子邮件：xieyi@cuit.edu.cn\nＱＱ号码：940481299"
教育背景
暂无内容
工作经历
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荣誉奖项
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