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吴

吴彤 (Tong Wu)

National Institute of Metrology
H指数:22
被引数:1,388

个人简介

"教育经历: 2018/12 – 2019/12,美国加州理工学院,Andrew and Peggy Cherng医学工程系,光学成像实验室,访问学者 2006/09 – 2011/06,浙江大学,光电系,光学工程,博士 2002/09 – 2006/06,天津大学,精密仪器与光电子工程学院光电信息工程系,光电信息工程,学士 工作经历: 2019/09 – 今,南京航空航天大学,航天学院航天光电信息系,副教授 2014/05 – 2019/08,南京航空航天大学,理学院应用物理系,副教授 2011/11 – 2014/04,南京航空航天大学,理学院应用物理系,讲师 教学经历: 1. 主讲《工程光学》、《光学设计》等光电信息科学与工程专业核心课程; 2. 曾讲授校公选学科拓展课《现代光学测试技术》、公共课《大学物理II》; 3. 指导硕士研究生8人,其中已毕业研究生3人,在读研究生5人。 获授权发明专利6项: [1].吴彤、李艳、刘友文、王吉明、赫崇君、顾晓蓉、王青青,基于谱域干涉仪的折射率和厚度同步测量方法与系统,2017/9/5,中国,专利号:ZL201510390449.8 [2].吴彤、施瑶瑶、刘友文、李艳、王吉明、赫崇君、顾晓蓉,一种光谱编码共焦与光学相干层析协同成像方法与系统,2017/6/30,中国,专利号:ZL201410459764.7 [3].吴彤、吴春洲、王青青、刘友文、李艳、赫崇君、王吉明、顾晓蓉,基于双空间载频技术拓展OCT成像深度的方法与系统,2017/6/16,中国,专利号:ZL201510390567.9 [4].吴彤、刘友文、施瑶瑶、王吉明、赫崇君、顾晓蓉,一种紧凑型光谱采集装置及采集方法,2014/12/10,中国,专利号:ZL201210500511.0 [5].丁志华,吴彤,王保勇,王川,王玲,陈明惠,陶渊浩,基于干涉光谱相位信息的光谱标定方法及系统,2012/08/15,中国,专利号:ZL201110030974.0 [6].丁志华,吴彤,陈明惠,王凯,孟婕,王玲,徐磊,王川,用于内窥光学相干层析成像的二维扫描光纤探头,2009/11/19,中国,专利号:ZL200910154253.3 承担项目 主持国家自然科学基金青年基金一项、中国博士后面上基金一项、江苏省博士后科研资助基金一项、南京航空航天大学基本科研业务费项目两项。"

教育背景

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工作经历

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荣誉奖项

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