Sloan, G. C.; Lagadec, E.; Zijlstra, A. A.; Kraemer, K. E.; Weis, A. P.; Matsuura, M.; Volk, K.; Peeters, E.; Duley, W. W.; Cami, J.; Bernard-Salas, J.; Kemper, F.; Sahai, R.
Jones, O. C.; Kemper, F.; Sargent, B. A.; McDonald, I.; Gielen, C.; Woods, Paul M.; Sloan, G. C.; Boyer, M. L.; Zijlstra, A. A.; Clayton, G. C.; Kraemer, K. E.; Srinivasan, S.; Ruffle, P. M. E.
McDonald, I.; Boyer, M. L.; van Loon, J. Th.; Zijlstra, A. A.; Hora, J. L.; Babler, B.; Block, M.; Gordon, K.; Meade, M.; Meixner, M.; Misselt, K.; Robitaille, T.; Sewilo, M.; Shiao, B.; Whitney, B.
Kemper, F.; Woods, Paul M.; Antoniou, V.; Bernard, J. -P.; Blum, R. D.; Boyer, M. L.; Chan, J.; Chen, C. -H. R.; Cohen, M.; Dijkstra, C.; Engelbracht, C.; Galametz, M.; Galliano, F.; Gielen, C.; Gordon, Karl D.; Gorjian, V.; Harris, J.; Hony, S.; Hora, J. L.; Indebetouw, R.; Jones, O.; Kawamura, A.; Lagadec, E.; Lawton, B.; Leisenring, J. M.; Madden, S. C.; Marengo, M.; Matsuura, M.; McDonald, I.; McGuire, C.; Meixner, M.; Mulia, A. J.; O'Halloran, B.; Oliveira, J. M.; Paladini, R.; Paradis, D.; Reach, W. T.; Rubin, D.; Sandstrom, K.; Sargent, B. A.; Sewilo, M.; Shiao, B.; Sloan, G. C.; Speck, A. K.; Srinivasan, S.; Szczerba, R.; Tielens, A. G. G. M.; van Aarle, E.; Van Dyk, S. D.; van Loon, J. Th.; Van Winckel, H.; Vijh, Uma P.; Volk, K.; Whitney, B. A.; Wilkins, A. N.; Zijlstra, A. A.