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收藏Artificial intelligence/machine learning in manufacturing and inspection: A GE perspective
Aggour, Kareem S.; Gupta, Vipul K.; Ruscitto, Daniel; Ajdelsztajn, Leonardo; Bian, Xiao; Brosnan, Kristen H.; Kumar, Natarajan Chennimalai; Dheeradhada, Voramon; Hanlon, Timothy; Iyer, Naresh; Karandikar, Jaydeep; Li, Peng; Moitra, Abha; Reimann, Johan; Robinson, Dean M.; Santamaria-Pang, Alberto; Shen, Chen; Soare, Monica A.; Sun, Changjie; Suzuki, Akane; Venkataramana, Raju; Vinciguerra, Joseph
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