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J

Jakub Iwański

university of warsaw
H指数:8
被引数:152

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教育背景

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工作经历

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荣誉奖项

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Optically detected magnetic resonance of wafer-scale hexagonal boron nitride thin films

基于光学检测的磁共振研究：针对晶圆级六方氮化硼薄膜

Materials for Quantum Technology
IF3.6
2025-12-030
OAAI
Sam C Scholten; Jakub Iwański; Kaijian Xing; Johannes Binder; Aleksandra K Dąbrowska; Hark H Tan; Tin S Cheng; Jonathan Bradford; Christopher J Mellor; Peter H Beton; Sergei V Novikov; Simonas Krotkus; Jan Mischke; Emre Yengel; Alex Henning; Sergej Pasko; Andrzej Wysmołek; Jean-Philippe Tetienne

研究方向

暂未获取到该数据
A
A. Wysmołek
H 指数:30论文数:225被引数:3,743
J
Johannes Binder
H 指数:17论文数:107被引数:974
A
Aleksandra K. Dąbrowska
H 指数:11论文数:38被引数:276
M
Mateusz Tokarczyk
H 指数:16论文数:85被引数:755
K
K.P. Korona
H 指数:27论文数:173被引数:2,305
G
G. Kowalski
H 指数:20论文数:113被引数:1,108
R
R. Stępniewski
H 指数:24论文数:135被引数:2,587
S
S. Kret
H 指数:24论文数:203被引数:2,416
H 指数:0论文数:18被引数:0
M
Marcin Strawski
H 指数:13论文数:87被引数:684