Maguire, K.; Sullivan, M.; Ellis, R. S.; Nugent, P. E.; Howell, D. A.; Gal-Yam, A.; Cooke, J.; Mazzali, P.; Pan, Y-C; Dilday, B.; Thomas, R. C.; Arcavi, I.; Ben-Ami, S.; Bersier, D.; Bianco, F. B.; Fulton, B. J.; Hook, I.; Horesh, A.; Hsiao, E.; James, P. A.; Podsiadlowski, P.; Walker, E. S.; Yaron, O.; Kasliwal, M. M.; Laher, R. R.; Law, N. M.; Ofek, E. O.; Poznanski, D.; Surace, J.
Parrent, J. T.; Howell, D. A.; Friesen, B.; Thomas, R. C.; Fesen, R. A.; Milisavljevic, D.; Bianco, F. B.; Dilday, B.; Nugent, P.; Baron, E.; Arcavi, I.; Ben-Ami, S.; Bersier, D.; Bildsten, L.; Bloom, J.; Cao, Y.; Cenko, S. B.; Filippenko, A. V.; Gal-Yam, A.; Kasliwal, M. M.; Konidaris, N.; Kulkarni, S. R.; Law, N. M.; Levitan, D.; Maguire, K.; Mazzali, P. A.; Ofek, E. O.; Pan, Y.; Polishook, D.; Poznanski, D.; Quimby, R. M.; Silverman, J. M.; Sternberg, A.; Sullivan, M.; Walker, E. S.; Xu, Dong; Buton, C.; Pereira, R.