Maguire, K.; Sullivan, M.; Ellis, R. S.; Nugent, P. E.; Howell, D. A.; Gal-Yam, A.; Cooke, J.; Mazzali, P.; Pan, Y-C; Dilday, B.; Thomas, R. C.; Arcavi, I.; Ben-Ami, S.; Bersier, D.; Bianco, F. B.; Fulton, B. J.; Hook, I.; Horesh, A.; Hsiao, E.; James, P. A.; Podsiadlowski, P.; Walker, E. S.; Yaron, O.; Kasliwal, M. M.; Laher, R. R.; Law, N. M.; Ofek, E. O.; Poznanski, D.; Surace, J.
McLure, R. J.; Dunlop, J. S.; de Ravel, L.; Cirasuolo, M.; Ellis, R. S.; Schenker, M.; Robertson, B. E.; Koekemoer, A. M.; Stark, D. P.; Bowler, R. A. A.
Gal-Yam, A.; Bufano, F.; Barlow, T. A.; Baron, E.; Benetti, S.; Cappellaro, E.; Challis, P. J.; Ellis, R. S.; Filippenko, A. V.; Foley, R. J.; Fox, D. B.; Hicken, M.; Kirshner, R. P.; Leonard, D. C.; Li, W.; Maoz, D.; Matheson, T.; Mazzali, P. A.; Modjaz, M.; Nomoto, K.; Ofek, E. O.; Simon, J. D.; Small, T. A.; Smith, G. P.; Turatto, M.; Van Dyk, S. D.; Zampieri, L.