.png){kind=icon}
M
Markoff, S.
University of AmsterdamH指数:0
被引数:21
个人简介
暂无内容
教育背景
暂无内容
工作经历
暂无内容
荣誉奖项
暂无内容
- 发表时间最新
- IF最高
- 被引数最高
2020-04-0318
OA
Roelofs, F.; Janssen, M.; Natarajan, I; Deane, R.; Davelaar, J.; Olivares, H.; Porth, O.; Paine, S. N.; Bouman, K. L.; Tilanus, R. P. J.; van Bemmel, I. M.; Falcke, H.; Akiyama, K.; Alberdi, A.; Alef, W.; Asada, K.; Azulay, R.; Baczko, A.; Ball, D.; Balokovic, M.; Barrett, J.; Bintley, D.; Blackburn, L.; Boland, W.; Bower, G. C.; Bremer, M.; Brinkerink, C. D.; Brissenden, R.; Britzen, S.; Broderick, A. E.; Broguiere, D.; Bronzwaer, T.; Byun, D.; Carlstrom, J. E.; Chael, A.; Chan, C.; Chatterjee, S.; Chatterjee, K.; Chen, M.; Chen, Y.; Cho, I; Christian, P.; Conway, J. E.; Cordes, J. M.; Crew, G. B.; Cui, Y.; De Laurentis, M.; Dempsey, J.; Desvignes, G.; Dexter, J.; Doeleman, S. S.; Eatough, R. P.; Fish, V. L.; Fomalont, E.; Fraga-Encinas, R.; Friberg, P.; Fromm, C. M.; Gomez, J. L.; Galison, P.; Gammie, C. F.; Garcia, R.; Gentaz, O.; Georgiev, B.; Goddi, C.; Gold, R.; Gu, M.; Gurwell, M.; Hada, K.; Hecht, M. H.; Hesper, R.; Ho, L. C.; Ho, P.; Honma, M.; Huang, C. L.; Huang, L.; Hughes, D. H.; Ikeda, S.; Inoue, M.; Issaoun, S.; James, D. J.; Jannuzi, B. T.; Jeter, B.; Jiang, W.; Johnson, M. D.; Jorstad, S.; Jung, T.; Karami, M.; Karuppusamy, R.; Kawashima, T.; Keating, G. K.; Kettenis, M.; Kim, J.; Kino, M.; Koay, J. Y.; Koch, P. M.; Koyama, S.; Kramer, M.; Kramer, C.; Krichbaum, T. P.; Kuo, C.; Lauer, T. R.; Lee, S.; Li, Y.; Li, Z.; Lindqvist, M.; Lico, R.; Liu, K.; Liuzzo, E.; Lo, W.; Lobanov, A. P.; Loinard, L.; Lonsdale, C.; Lu, R.; MacDonald, N. R.; Mao, J.; Markoff, S.; Marrone, D. P.; Marscher, A. P.; Marti-Vidal, I; Matsushita, S.; Matthews, L. D.; Medeiros, L.; Menten, K. M.; Mizuno, Y.; Mizuno, I; Moran, J. M.; Moriyama, K.; Moscibrodzka, M.; Mueller, C.; Nagai, H.; Nagar, N. M.; Nakamura, M.; Narayan, R.; Narayanan, G.; Neri, R.; Ni, C.; Noutsos, A.; Okino, H.; Ortiz-Leon, G. N.; Oyama, T.; Ozel, F.; Palumbo, D. C. M.; Patel, N.; Pen, U.; Pesce, D. W.; Pietu, V; Plambeck, R.; PopStefanija, A.; Prather, B.; Preciado-Lopez, J. A.; Psaltis, D.; Pu, H.; Ramakrishnan, V; Rao, R.; Rawlings, M. G.; Raymond, A. W.; Rezzolla, L.; Ripperda, B.; Rogers, A.; Ros, E.; Rose, M.; Roshanineshat, A.; Rottmann, H.; Roy, A. L.; Ruszczyk, C.; Ryan, B. R.; Rygl, K. L. J.; Sanchez, S.; Sanchez-Arguelles, D.; Sasada, M.; Savolainen, T.; Schloerb, F. P.; Schuster, K.; Shao, L.; Shen, Z.; Small, D.; Sohn, B. Won; SooHoo, J.; Tazaki, F.; Tiede, P.; Titus, M.; Toma, K.; Torne, P.; Traianou, E.; Trent, T.; Trippe, S.; Tsuda, S.; van Langevelde, H. J.; van Rossum, D. R.; Wagner, J.; Wardle, J.; Weintroub, J.; Wex, N.; Wharton, R.; Wielgus, M.; Wong, G. N.; Wu, Q.; Young, A.; Young, K.; Younsi, Z.; Yuan, F.; Yuan, Y.; Zensus, J. A.; Zhao, G.; Zhao, S.; Zhu, Z.
2016-06-30118
OAAI
Bilous, A. V.; Kondratiev, V. I.; Kramer, M.; Keane, E. F.; Hessels, J. W. T.; Stappers, B. W.; Malofeev, V. M.; Sobey, C.; Breton, R. P.; Cooper, S.; Falcke, H.; Karastergiou, A.; Michilli, D.; Oslowski, S.; Sanidas, S.; ter Veen, S.; van Leeuwen, J.; Verbiest, J. P. W.; Weltevrede, P.; Zarka, P.; Griessmeier, J. -M.; Serylak, M.; Bell, M. E.; Broderick, J. W.; Eisloeffel, J.; Markoff, S.; Rowlinson, A.
2015-05-193
OA
Dieckmann, M. E.; Sarri, G.; Markoff, S.; Borghesi, M.; Zepf, M.
LOFAR: 低频阵列
2013-07-161.7K
OAAI
van Haarlem, M. P.; Wise, M. W.; Gunst, A. W.; Heald, G.; McKean, J. P.; Hessels, J. W. T.; de Bruyn, A. G.; Nijboer, R.; Swinbank, J.; Fallows, R.; Brentjens, M.; Nelles, A.; Beck, R.; Falcke, H.; Fender, R.; Horandel, J.; Koopmans, L. V. E.; Mann, G.; Miley, G.; Rottgering, H.; Stappers, B. W.; Wijers, R. A. M. J.; Zaroubi, S.; van den Akker, M.; Alexov, A.; Anderson, J.; Anderson, K.; van Ardenne, A.; Arts, M.; Asgekar, A.; Avruch, I. M.; Batejat, F.; Bahren, L.; Bell, M. E.; Bell, M. R.; van Bemmel, I.; Bennema, P.; Bentum, M. J.; Bernardi, G.; Best, P.; Birzan, L.; Bonafede, A.; Boonstra, A. -J.; Braun, R.; Bregman, J.; Breitling, F.; van de Brink, R. H.; Broderick, J.; Broekema, P. C.; Brouw, W. N.; Brueggen, M.; Butcher, H. R.; van Cappellen, W.; Ciardi, B.; Coenen, T.; Conway, J.; Coolen, A.; Corstanje, A.; Damstra, S.; Davies, O.; Deller, A. T.; Dettmar, R. -J.; van Diepen, G.; Dijkstra, K.; Donker, P.; Doorduin, A.; Dromer, J.; Drost, M.; van Duin, A.; Eisloeffel, J.; van Enst, J.; Ferrari, C.; Frieswijk, W.; Gankema, H.; Garrett, M. A.; de Gasparin, F.; Gerbers, M.; de Geus, E.; Griessmeier, J. -M.; Grit, T.; Gruppen, P.; Hamaker, J. P.; Hassall, T.; Hoeft, M.; Holties, H. A.; Horneffer, A.; van der Horst, A.; van Houwelingen, A.; Huijgen, A.; Iacobelli, M.; Intema, H.; Jackson, N.; Jelic, V.; de Jong, A.; Kant, D.; Karastergiou, A.; Koers, A.; Kollen, H.; Kondratiev, V. I.; Kooistra, E.; Koopman, Y.; Koster, A.; Kuniyoshi, M.; Kramer, M.; Kuper, G.; Lambropoulos, P.; Law, C.; van Leeuwen, J.; Lemaitre, J.; Loose, M.; Maat, P.; Macario, G.; Markoff, S.; Masters, J.; McFadden, R. A.; McKay-Bukowski, D.; Meijering, H.; Meulman, H.; Mevius, M.; Millenaar, R.; Miller-Jones, J. C. A.; Mohan, R. N.; Mol, J. D.; Morawietz, J.; Morganti, R.; Mulcahy, D. D.; Mulder, E.; Munk, H.; Nieuwenhuis, L.; van Nieuwpoort, R.; Noordam, J. E.; Norden, M.; Noutsos, A.; Offringa, A. R.; Olofsson, H.; Omar, A.; Orru, E.; Overeem, R.; Paas, H.; Pandey-Pommier, M.; Pandey, V. N.; Pizzo, R.; Polatidis, A.; Rafferty, D.; Rawlings, S.; Reich, W.; de Reijer, J. -P.; Reitsma, J.; Renting, G. A.; Riemers, P.; Rol, E.; Romein, J. W.; Roosjen, J.; Ruiter, M.; Scaife, A.; van der Schaaf, K.; Scheers, B.; Schellart, P.; Schoenmakers, A.; Schoonderbeek, G.; Serylak, M.; Shulevski, A.; Sluman, J.; Smirnov, O.; Sobey, C.; Spreeuw, H.; Steinmetz, M.; Sterks, C. G. M.; Stiepel, H. -J.; Stuurwold, K.; Tagger, M.; Tang, Y.; Tasse, C.; Thomas, I.; Thoudam, S.; Toribio, M. C.; van der Tol, B.; Usov, O.; van Veelen, M.; van der Veen, A. -J.; ter Veen, S.; Verbiest, J. P. W.; Vermeulen, R.; Vermaas, N.; Vocks, C.; Vogt, C.; de Vos, M.; van der Wal, E.; van Weeren, R.; Weggemans, H.; Weltevrede, P.; White, S.; Wijnholds, S. J.; Wilhelmsson, T.; Wucknitz, O.; Yatawatta, S.; Zarka, P.; Zensus, A.; van Zwieten, J.
2012-10-0875
OA
Dibi, S.; Drappeau, S.; Fragile, P. C.; Markoff, S.; Dexter, J.
2011-05-13216
OAAI
Stappers, B. W.; Hessels, J. W. T.; Alexov, A.; Anderson, K.; Coenen, T.; Hassall, T.; Karastergiou, A.; Kondratiev, V. I.; Kramer, M.; van Leeuwen, J.; Mol, J. D.; Noutsos, A.; Romein, J. W.; Weltevrede, P.; Fender, R.; Wijers, R. A. M. J.; Bahren, L.; Bell, M. E.; Broderick, J.; Daw, E. J.; Dhillon, V. S.; Eisloeffel, J.; Falcke, H.; Griessmeier, J.; Law, C.; Markoff, S.; Miller-Jones, J. C. A.; Scheers, B.; Spreeuw, H.; Swinbank, J.; ter Veen, S.; Wise, M. W.; Wucknitz, O.; Zarka, P.; Anderson, J.; Asgekar, A.; Avruch, I. M.; Beck, R.; Bennema, P.; Bentum, M. J.; Best, P.; Bregman, J.; Brentjens, M.; van de Brink, R. H.; Broekema, P. C.; Brouw, W. N.; Brueggen, M.; de Bruyn, A. G.; Butcher, H. R.; Ciardi, B.; Conway, J.; Dettmar, R. -J.; van Duin, A.; van Enst, J.; Garrett, M.; Gerbers, M.; Grit, T.; Gunst, A.; van Haarlem, M. P.; Hamaker, J. P.; Heald, G.; Hoeft, M.; Holties, H.; Horneffer, A.; Koopmans, L. V. E.; Kuper, G.; Loose, M.; Maat, P.; McKay-Bukowski, D.; McKean, J. P.; Miley, G.; Morganti, R.; Nijboer, R.; Noordam, J. E.; Norden, M.; Olofsson, H.; Pandey-Pommier, M.; Polatidis, A.; Reich, W.; Rottgering, H.; Schoenmakers, A.; Sluman, J.; Smirnov, O.; Steinmetz, M.; Sterks, C. G. M.; Tagger, M.; Tang, Y.; Vermeulen, R.; Vermaas, N.; Vogt, C.; de Vos, M.; Wijnholds, S. J.; Yatawatta, S.; Zensus, A.
研究方向
暂未获取到该数据
- 合作次数
- H指数
- 论文数
- 被引数